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低周疲勞短裂紋行為和可靠性分析

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趙永翔

低周疲勞短裂紋行為和可靠性分析

Record Type:	Language materials, printed : monographic
Author:	趙永翔
Place of Publication:	成都
Published:	西南交通大學出版社;
Year of Publication:	2006
Subject:	低周率運行 -
Online resource:	http://cec.lib.apabi.com:80/product.asp?BookID=m%2e20061222%2dm006%2dw006%2d092
Summary:	本書研究了低周疲勞短裂紋行為和可靠性分析方法，闡明了疲勞短裂紋群體交互作用與損傷演化的機制，揭示了疲勞性能存在隨機性及演化性的本質原因。
ISBN:	7811042150

低周疲勞短裂紋行為和可靠性分析
趙永翔

低周疲勞短裂紋行為和可靠性分析 / 趙永翔著 - 成都 : 西南交通大學出版社, 2006.
ISBN 7811042150
低周率運行

低周疲勞短裂紋行為和可靠性分析
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