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幾何量公差與檢測
~
甘永立
幾何量公差與檢測
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
作者:
甘永立
出版地:
上海
出版者:
上海科學技術出版社;
出版年:
2004
標題:
機械元件 - 互換性 -
電子資源:
http://cec.lib.apabi.com:80/product.asp?BookID=ISBN7%2d5323%2d7462%2d9
摘要註:
該書共12章，分別講述了幾何量測量基礎，孔、軸公差與配合，形狀和位置公差與檢測，表面粗糙度輪廓及其檢測，滾動軸承的公差與配合等內容。
ISBN:
7532374629
幾何量公差與檢測
甘永立
幾何量公差與檢測
/ 甘永立主編 - 上海 : 上海科學技術出版社, 2004.
ISBN 7532374629
機械元件 -- 互換性
幾何量公差與檢測
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該書共12章，分別講述了幾何量測量基礎，孔、軸公差與配合，形狀和位置公差與檢測，表面粗糙度輪廓及其檢測，滾動軸承的公差與配合等內容。
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ISBN7-5323-7462-9
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